探索材料的真相:21 年全球金相設備和耗材製造商。
目的:以金相截面分析法檢測PCB焊點中的空隙、金屬間化合物(IMC)層及其他潛在缺陷。試樣製備流程如下:先使用Table Cut 200型自動平板切割機進行截面切割,然後使用TJ2226冷鑲嵌樹脂進行冷鑲嵌,最後使用Alpha 610型自動研磨拋光機進行研磨拋光。詳細的試樣製備步驟詳見下文製備方法。
基本指南:
切割: 1.對於PCB樣品,選擇DP電鍍鑽石切割輪。具體切割輪規格應根據Trojan切割指南選擇。
2.選擇非脈衝模式進行切割。建議最大切割速度≤0.25毫米/秒。
安裝:以真空浸漬法結合高邊緣保持性冷裝樹脂對樣品進行安裝。
研磨: 1.方法 1 :從 P400 開始用砂紙研磨至目標區域邊緣,用 P1200 研磨至目標位置,然後用 P2000 和 P4000進行精細研磨。
2.方法 2:從 P400 開始,用金相砂紙打磨,直到到達目標區域的邊緣。
3.繼續使用 POS 圓盤和 9 μm PD-WT 多晶鑽石懸浮液進行精細研磨,研磨至目標位置。
4.每次研磨步驟後,徹底清潔樣品、樣品支架及雙手。
拋光: 1.開始拋光前,必須徹底清潔拋光布、樣品架和雙手。每次拋光步驟後都應重複此清潔步驟。
2.不同磨料粒徑的拋光盤不能混用。
3.拋光後,用酒精沖洗標本,並用吹風機吹乾表面,以去除殘留的水漬。
4.每次拋光步驟後,在金相顯微鏡下檢查試樣,以確認刮痕尺寸與拋光顆粒尺寸相符,且刮痕方向隨機。
5.使用後,拋光布應使用流水和軟刷徹底清洗,瀝乾水分,並妥善存放。
6.用於PCB樣品的拋光布應專用於PCB拋光,不得用於拋光其他材料的樣品。