Metallographische Probenpräparation für elektromagnetische Abschirmmaterialien
Elektromagnetische Abschirmbeschichtungen dienen als zentrale Schutzmaterialien für 5G-Kommunikation, Präzisionselektronik und Anlagen zur Erzeugung neuer Energien. Dank ihrer ultradünnen Bauweise, ihrer überragenden Abschirmwirkung und ihrer breiten Kompatibilität blockieren sie effektiv elektromagnetische Störungen und verhindern Signalverluste. Dadurch ermöglichen sie den stabilen Betrieb von Elektronik in komplexen elektromagnetischen Umgebungen. Sie sind heute die gängigste, leichte Lösung für die elektromagnetische Abschirmung.
Die metallografische Schliffuntersuchung ist die wichtigste Prüfmethode zur Analyse der Qualität von Schutzbeschichtungen. Nach standardisierten Probenpräparationsverfahren, einschließlich Probenahme, Einbettung, Schleifen und Polieren, können wir die Gleichmäßigkeit der Beschichtungsdicke im Querschnitt und die Haftbedingungen an den Grenzflächen visuell beurteilen.
Metallografische Prüfungen ermöglichen eine präzise Bewertung der Beschichtungsqualität, stellen einen Zusammenhang zwischen Abschirmleistung und Lebensdauer her, unterstützen die Rezepturoptimierung für Forschungs- und Entwicklungsteams und kontrollieren Prozessabweichungen in der Serienproduktion. Sie liefern wichtige Daten zur Gewährleistung der Zuverlässigkeit und Stabilität elektromagnetischer Abschirmprodukte.
Nachfolgend finden Sie als Referenz den Arbeitsablauf zur metallographischen Probenpräparation für die Querschnittsanalyse von elektromagnetischen Abschirmungsmaterialien:
1️⃣ Grobschleifen mit P800-Schleifpapier zum Glätten der Oberfläche
2️⃣Feinschleifen mit Schleifpapieren der Körnungen P2000 und P4000
3️⃣ Polieren mit ET-JP-Poliertuch und 0,05 μm AO-W-Aluminiumoxidsuspension
