Dans les industries de fabrication de haute précision, comme celles des semi-conducteurs et des circuits imprimés, la préparation des échantillons a toujours été une étape cruciale du contrôle qualité. Non seulement elle est chronophage et exigeante en main-d'œuvre, mais elle requiert également un haut niveau d'expertise technique et d'expérience de la part des opérateurs. La mise au point d'une préparation d'échantillons rapide, précise et reproductible représente un enjeu majeur pour de nombreuses entreprises soucieuses d'améliorer leur qualité et leur efficacité.

SemiPOL permet le meulage et le polissage de précision de divers matériaux (lentilles optiques, plaquettes de semi-conducteurs, phases cristallines métalliques et non métalliques) pour l'analyse microscopique (MEB, FIB, MET, etc.), avec une précision micrométrique. Conçu principalement pour le meulage et le polissage en parallèle, il peut être associé à des accessoires supplémentaires pour faciliter le meulage et le polissage de pièces et de surfaces complexes et irrégulières.