Trojan MR-43M Metallurgisches Hellfeld-/Dunkelfeldmikroskop für Forschungszwecke

Merkmale

Der Ständer basiert auf dem Prinzip einer T-förmigen Dachrahmenkonstruktion. Ein markantes zylindrisches Element an der Unterseite dient als tragendes und seitlich kraftaufnehmendes Bauteil. Es hält hohen vertikalen und horizontalen Lasten stand und reduziert die durch äußere Einwirkungen verursachte Instabilität erheblich. Ein neu gestaltetes Lampengehäuse ist in die Aussparung an der Rückseite eingelassen und erzeugt so eine fantasievolle und optisch ansprechende, flügelartige Form. Das gesamte Instrument ist mit einer speziellen Pulverbeschichtung versehen, die Schutz, Dekoration, Verschleißfestigkeit und Lösungsmittelbeständigkeit vereint.

• T-förmige Dachrahmenkonstruktion mit hoher Steifigkeit und hoher Stabilität;
• Aus Bausteinen zusammensetzbare, flexible und vielseitige Struktur;
• Spezielles Oberflächenbehandlungsverfahren, das sowohl attraktiv als auch praktisch ist;
• Optimiertes und verbessertes Lichtquellenkondensatorsystem, energiesparend und umweltfreundlich.

Produktvorteile

• Intelligentes, kodiertes Mikroskop. Das kodierte Mikroskop MR-43M integriert die Hardware-Einstellungen des Mikroskops mit der Bildanalysesoftware Trojan. Die Objektivvergrößerung wird auf dem Bildschirm angezeigt, und die in der Software gespeicherten Kalibrierungswerte werden beim Umschalten der Vergrößerung automatisch angepasst. Dadurch werden Messfehler vermieden, die durch das Vergessen des Umschaltens der Softwarevergrößerung entstehen könnten.
• Intelligentes Lichtintensitätsmanagement für gleichmäßige Ausleuchtung. Bei der Ersteinrichtung kann die Beleuchtungsstärke an die spezifische Hardwarekonfiguration des codierten Objektivrevolvers angepasst werden. Bei Vergrößerungsänderungen passt das Mikroskop die Lichtintensität automatisch an den korrekten Wert an. Die Helligkeitsspeicherfunktion speichert die für jedes Objektiv verwendete Beleuchtungsstärke und passt diese beim Objektivwechsel automatisch an. Dies reduziert die visuelle Ermüdung und steigert die Arbeitseffizienz.
• Zentrierbarer Objektivrevolver. Die Objektivmitte ist verstellbar. Dank Präzisionslagern lässt sich der Revolver leichtgängig und gleichmäßig drehen, bietet eine hohe Wiederholgenauigkeit und gewährleistet nach dem Objektivwechsel eine Exzentrizität von null.
• Umfangreiche Beobachtungsmethoden für Ihre Inspektionsanforderungen. Das System integriert Hellfeld-, Dunkelfeld-, Polarisationslicht-, DIC-Differenzialinterferenzkontrast- und weitere Beobachtungsfunktionen; die Funktionen können je nach Anwendung ausgewählt werden.
• Weitwinkel-Bildgebungssystem. Das extrem weite Sichtfeld ermöglicht Ihnen ein völlig neues Großfeld-Erlebnis.
• Hervorragendes Polarisationssystem. Das System umfasst einen Polarisatoreinsatz und einen Analysatoreinsatz für die Prüfung mit polarisiertem Licht. Bei der Prüfung von Halbleitern und Leiterplatten eliminiert es Streulicht und sorgt so für klarere Details. Der um 360° drehbare Analysator ermöglicht die bequeme Beobachtung des Prüflings unter verschiedenen Polarisationswinkeln, ohne dass dieser bewegt werden muss.
• Differenzielles Interferenzkontrast-Bildgebungssystem (DIC). Es wandelt kleinste Höhenunterschiede, die unter Hellfeldbeobachtung nicht erkennbar sind, in kontrastreiche Hell-Dunkel-Unterschiede um, die als dreidimensionales Reliefbild dargestellt werden, zum Beispiel leitfähige Partikel auf LCDs, Kratzer auf Präzisionsscheibenoberflächen usw.
• Hervorragendes ergonomisches Design. Der Fokussiermechanismus mit niedriger Position ist komfortabel zu bedienen und verfügt über eine Grob-/Feinfokussierung, einen oberen Anschlag für die Grobfokussierung sowie einen Zufallsanschlag. Der Zufallsanschlag ermöglicht einen schnellen Probenwechsel und schützt sowohl die Probe als auch die Objektive.

Technische Spezifikationen