Malzemelerin Gerçeğini Keşfedin: 21 Yıllık Küresel Metalografik Ekipman ve Sarf Malzemeleri Üreticisi.
MV30 ters metalurjik mikroskop, numuneyi objektifin üzerine yerleştirip alttan gözlemler ve çelik, otomotiv, makine ve elektronik endüstrilerinde yaygın olarak kullanılır. Numune yüzeyi düzensiz olduğunda veya numune büyük olduğunda, kolay ve hızlı gözlem için doğrudan tabla üzerine yerleştirilebilir. MV30, 5 kg'a kadar büyük ve ağır numuneleri barındırabilir ve onlarca ila binlerce kat büyütmeyi destekler. Metalurjik analiz yazılımıyla birlikte kullanıldığında, metalurjik görüntüleme ve analiz gereksinimlerinin tamamını destekleyerek, farklı işlemlerin numuneler üzerindeki etkilerini daha derinlemesine incelemenize yardımcı olur.
Bu cihaz, her türlü malzeme öğretimi, rutin uygulamalar ve laboratuvarlardaki temel metalografik araştırmalar için tasarlanmıştır. Geniş görüş alanlı düz merceklerle eşleştirilmiş mükemmel optik sistemi, öğrencilerin metalografik ve malzeme analizindeki en küçük ayrıntıları gözlemlemelerini sağlar. Kullanımı kolay koaksiyel kaba/ince odaklama mekanizması, öğrencilerin deneyin kendisine odaklanmasını sağlar. Kompakt gövdesi saklamayı kolaylaştırır ve laboratuvar alanından tasarruf sağlar; parlak alan gözlemi için kullanılabilir ve günlük öğretim ve laboratuvar çalışmalarının ihtiyaçlarını karşılar.
Optik Sistem: Sonsuzluk düzeltmeli optik sistem.
Özellikler
Ürün Avantajları
Teknik Özellikler
| Parametre | Özellikler |
| Model | MV30 Parlak Alan / Kodlu / Işık Yoğunluğu Hafızası / Polarize (isteğe bağlı) |
| Optik Sistem | Infinity renk sapması düzeltmeli optik sistem, 45 mm |
| Üç gözlü gözlem başlığı | Sonsuz menteşeli trinoküler görüntüleme başlığı; gözbebekleri arası mesafe ayarı: 50 mm–75 mm; tek taraflı diyoptri ayarı: ±5 diyoptri; iki konumlu ışık bölme oranı R:T = 100:0 veya 0:100 |
| Göz merceği | Yüksek göz noktası geniş görüş alanlı plan mercek SWH10×/23mm (diyoptri ayarlanabilir) |
| Hedefler | Parlak alan metalurjik objektifler (5×, 10×, 20×, 50×, 100×) 5× NA0.15 WD12.1; 10× NA0.3 WD16.2; 20× NA0.40 WD12; 50× NA0.55 WD8.5; 100× NA0.8 WD2.1 (100 katı isteğe bağlıdır) |
| Durmak | Polarizör yuvası ve ışık yoğunluğu hafıza fonksiyonu ile birlikte. |
| Burunluk | 5 delikli kodlu parlak alan objektif yuvası; kodlu yuva, mikroskop donanım ayarlarını görüntü analiz yazılımıyla entegre eder. Objektif büyütmesi ekranda görüntülenir ve büyütme değiştirildiğinde yazılımda kaydedilen kalibrasyon değerleri otomatik olarak ayarlanır; böylece yazılım büyütmesini değiştirmeyi unutmaktan kaynaklanan ölçüm hataları ortadan kaldırılır. |
| Kaba/İnce Odaklama Mekanizması | Düşük konumlu koaksiyel kaba ve ince odaklama; kaba odaklama mesafesi 9 mm (odak düzleminden yukarı doğru 6,5 mm ve aşağı doğru 2,5 mm); ince odaklama hassasiyeti 0,002 mm; aşağı doğru kaymayı önlemek için gerilim ayar düğmesi ile donatılmıştır. |
| Sahne | Çift katmanlı mekanik tabla, 215 mm × 165 mm; düşük konumlu koaksiyel X/Y ayarı; hareket aralığı 45 mm × 35 mm |
| Kamera Bağlantı Noktası | Fotoğraf/video aksesuarı: 0.5× C-mount, odak ayarlı |
| Diğer Aksesuarlar | 4K HD görüntüleme sistemi, USB 3.0 PC görüntüleme sistemi, kameralar (5MP, 6MP, 12MP, 20MP, vb.) Yüksek hassasiyetli kademeli mikrometre, bölme değeri 0,01 mm; Yazılım (profesyonel ölçüm sistemi, metalurjik analiz sistemi, partikül analiz sistemi, gözeneklilik analiz sistemi, özel kaynak ölçüm sistemi vb.) |